XRD优势是方便、快捷、便宜

TEM直观地看到粒子大小,且可在此基础向上观察多维结构、向下观测原子排序.优势是精确、直观.

XRD和TEM是两种常用的晶体结构分析方法。

XRD是一种基于粉末衍射原理的分析方法，可以用于测定晶体的晶格参数、晶胞大小、晶粒尺寸等，但对于小于100纳米的晶体，XRD的分辨率较低，可能会出现假阳性结果。TEM则是一种基于电子束穿透原理的分析方法，可以提供高分辨率的图像，对于小于100纳米的晶体，TEM的分辨率远高于XRD，且不会出现假阳性结果。